La prochaine génération de circuits intégrés, caractérisée par la reconfigurabilité, l'autoréparation, la tolérance aux pannes et l'autogestion, repose sur des puces capables de s'autotester efficacement. L'article "Fault Tolerant Systems Design in VLSI Using Data Compression Under Constraints of Failure Probabilities", publié dans le numéro de décembre 2001 de IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement par Sunil R. Das, Chittoor V. Ramamoorthy, Mansour H. Assaf, Emil M. Petriu et Wen-Ben Jone, est une référence puissante pour les professionnels qui développent ces nouvelles puces. L'article présente un argumentaire lucide sur l'importance de la compaction des données de réponse, ainsi qu'un aperçu complet des différentes méthodes d'autotest intégré (BIST) disponibles.
Sunil R. Das a publié de nombreux articles dans des domaines tels que la théorie de la commutation et des automates, la conception de la logique numérique, la logique des seuils, l'informatique tolérante aux pannes, la théorie des graphes, la microprogrammation et la microarchitecture. Fellow de l'IEEE, de l'Académie canadienne d'ingénierie et de la Society for Design and Process Science, il est membre de nombreuses sociétés de l'IEEE ainsi que de l'Association for Computing Machinery. Parmi les distinctions qui lui ont été décernées figurent le Technical Achievement Award et le Meritorious Service Award de l'IEEE Computer Society, et il a été nommé Golden Core Member de la société en 1998. Il est actuellement professeur d'ingénierie électrique et informatique à l'école d'ingénierie électrique et d'informatique de l'Université d'Ottawa, à Ottawa, Ontario, Canada.
Sunil Das
