Microscope à force atomique Dimension Icon de Bruker
Description
Le microscope à force atomique Dimension Icon de Bruker est la plus récente avancée du fabricant en imagerie et caractérisation à l’échelle nanométrique.
Il utilise une plateforme de balayage à pointe pour les échantillons de grande taille ainsi que des détecteurs qui compensent pour les niveaux de température et de bruit à une échelle sous l’angström pour l’axe des Z, et de l’ordre de l’angström pour les axes des X et des Y.
Télécharger la brochure du microscope à force atomique Dimension Icon de Bruker (anglais seulement - version PDF, 1 326 Ko)
