Microscope à force atomique Park NX10
Description
Ce microscope précis sert pour la nanotechnologie.
On peut utiliser les techniques de caractérisation des matériaux suivantes :
- Microscopie à force atomique sans contact
- Microscopie à force atomique avec contact
- Microscopie à force latérale
- Imagerie de phase
- Piquage intermittent
- Microscopie à force atomique conductrice
- Spectroscopie courant-tension
- Microscopie à sonde de Kelvin
- Microscopie à force électrostatique, y compris par contact dynamique (DC-EFM), et microscopie à force piézoélectrique
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