Profilomètre – DektakXT de Bruker
Description
- Le profilomètre DektakXT sert à mesurer les hauteurs de palier ou les profondeurs de sillon sur une surface. La plage d’affichage des données couvre de 200 à 655 000 A (65,5 µm) à une résolution verticale d’environ 5 A
- Ce profilomètre de type stylet produit des mesures reproductibles et exactes sur diverses surfaces : de la caractérisation bidimensionnelle traditionnelle de la rugosité superficielle et des mesures de hauteurs de palier à la schématisation tridimensionnelle avancée et à l’analyse des contraintes à la pellicule.
- L’outil a plusieurs applications : vérification de la rugosité superficielle, inspection des pellicules minces, analyse des traces solaires et microfluides.
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