Instruments
Les experts œuvrant pour ces plateformes offrent un service d’analyse de diffraction des rayons-X pour cristaux simples (SCXRD), diffraction des Rayons-X par les poudres (PXRD) et fluorescence par rayons-X; trois techniques complémentaires couramment utilisées par les chercheurs œuvrant dans les domaines de la chimie, de la biochimie, de la physique, de la géologie, de la minéralogie et de l’ingénierie.
Diffraction de cristaux simples
Bruker KAPPA APEX II
Cet équipement est doté d’un goniomètre Kappa 4-cercle ainsi que d’un détecteur du type APEX II CCD. Les rayons X sont générés à partir d’un tube hermétique de molybdénium combiné à un monochromateur de type TRIUMPH.
Bruker SMART APPEX II
Cet équipement est doté d’un goniomètre Kappa 3-cercle et d’un détecteur APEX II CCD. Afin de maximiser l’intensité du faisceau, les rayons X sont générés à partir d’un tube hermétique de molybdénium combiné à un focalisateur Monocapf.
Diffraction des poudres
Le diffractomètre Rigaku Ultima IV
Un système comprenant un theta-2theta avec goniomètre équipé d’une source de cuivre et d’une faisceau monochromatique qui peut être utilisé avec un faisceau focalisé ou à géométrie parallèle (GP; la GP est idéale pour l’étude de surface irrégulière). La configuration du système permet une ouverture variable ou fixe des fenêtres de faisceau. Ce dernier facilite la mesure d’angles faibles. L’analyse de la dispersion des rayons X à angles faibles est un outil de choix pour la détermination de la taille des particules/pores des nanomatériaux (1-100 nm) en mode transmission. Une aire équipée d’un microscope permet la cartographie x-y des échantillons en analysant différentes positions x-y avec un faisceau fin et l’ouverture de faisceaux parallèles spécialement optimisés pour l’étude de surface.
X-ray Fluorescence
Le spectromètre Rigaku Supermini200
L’analyse des échantillons est effectuée avec l’aide du spectromètre Rigaku Supermini200, un spectromètre dispersif en longueur d’onde séquentielle de paillasse qui est équipé d’un tube de palladium à rayons X 200 W. Une combinaison de deux cristaux d’analyse, un détecteur de scintillation et un détecteur d’écoulement proportionnel permet une analyse de tous les éléments de sodium (Na) à l’uranium (U). Un échantillonneur automatique permet une determination automatique de jusqu’à 12 échantillons. Le laboratoire possède également les équipements nécessaires à la préparation des échantillons (Claisse M4 Fluxer pour les disques; Carver press pour les pastilles pressées).
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Laboratoire à rayons-x
tél. (613) 562-5800 poste 6664
Complexe STEM, pièce 028A
Université d’Ottawa
150 Louis Pasteur
Ottawa, ON, Canada, K1N 6N5
Dr. Jeff Ovens
tél. (613) 562-5800 poste 1488
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STM 405